光辐射自动测控仪/光辐射测控仪 型号：DP-GCK-I
本仪器适用于实时监测曝光量或曝辐量。用户可以根据工作需要设定预置值，仪器在监测量达到预置值时发声报警。该仪器可广泛应用于材料老化、紫外杀菌、光化学、大规模集成电路光刻等领域。光辐射自动测控仪/光辐射测控仪 型号：DP-GCK-I
主要性能和技术指标：1．测量波段与量程：
| 测量范围（nm） | 峰值波长（nm） | 量 程 | 主要用途 | |
| 辐照度 | 曝光（辐）量 | |||
| 350—1050 | 半 宽400—1000 | 999 mW/cm2 | 9999.9 MJ/m2 | 材料老化 |
| 230—290 | 254 | 9.99 mW/cm2 | 999.99 mJ/cm2 | 紫外杀菌 |
| 320—400 | 365 | 9.99 mW/cm2 | 999.99 mJ/cm2 | 印刷、光刻 |
| 380—460 | 420 | 9.99 mW/cm2 | 999.99 mJ/cm2 | 印刷 |
注：表中所列为常用波段和量程，用户选购仪器时要首先确认工作波段以及量程。用户也可选择其它波段，例如峰值波长为313nm或340nm，但是要提前就主要技术指标与技术部沟通，双方确认后再签购销合同。定制产品原则上不予退货。
2．仪器显示：本仪器有两个LED显示窗口，其中光辐照度显示3位，
曝光量显示5位，两窗口的量程由用户参照上表确定。
3．光辐照度及曝光量：±5% （相对于NIM标准）
4．使用环境：温度：20℃±20℃ 湿度 <80%
使用光纤传光束时，试验箱的温度可达到80℃左右。
5．电源：AC 220V