四探针金属/半导体电阻率测量仪    型号：DP-SB100A/21
DP-SB100A/21型四探针导体/半导体电阻率测量仪是DP-SB100A/3的改进型，其由DP-SB118/21型精密电压电流源，DP-SB120/2四探针样品平台二台仪器构成。可用于高校的物理教育实验，对导体/半导体薄膜样品的电阻和电阻率进行测试及研究。由于本产品为组合式构思且带有RS232C接口输出，因此为仪表的多用途以及灵活性提供了方便。
DP-SB118/21型精密直流电压电流源 （带RS232C接口，详见该产品使用说明书）
l  直流电压源：输出电压范围  0~50V  分20mV、200mV、2V、20V、50V五档，每档输出电压可连续调节，分辨力为1μV，基本误差为0.1%。
l  直流电流源：输出电流范围  0~200mA  分20μA、200μA、2mA、20mA、200mA五档，每档输出电流可连续调节，分辨力为1nA，基本误差为0.03%。
l  仪器后面板配有一个为PC/RS232C接口连接至PC机上，可利用PC机上的“超级终端”获得仪器的测量数据。
DP-SB120/2四探针样品平台（详见该产品使用说明书）
为被测薄膜样品，利用四探针测量方式测量导体/半导体样品的电阻和电阻率，提供了方便。